1988'den beri
Teknik Serviste bir telefon kadar size yakınız..

[ANASAYFA] [REFERANSLAR] [İLETİŞİM]
[THERMO NITON XRF ANALYZER]
[OXFORD WAS SPEKTROMETRELER]
FOTOTÜPLÜ SPEKTROMETRELERDE PROFİL AYARI :
Isı etkileşiminden dolayı fototüplü  sistemlerde  dalga boyu saçılımına göre  fototüplerin yerlerini değiştirmek imkansız ve her defasında  optimum  profil ayarı yapmak zor ve gereksiz olduğundan  optik  sistem  termal  olarak  stabil tutulmaya  çalışılır. Bazı sistemlerde optik  odası  35° C , bazılarında 39 ° C gibi oda sıcaklığının  üzerindeki ısılarda  özel  bir kontrol sistemi  ile sabit  tutulmaya çalışılır. Ortam sıcaklığı 18° C nin altında  ise  sistemi  ısıtmak için  çok zaman geçecek,  35- 39° C üzerindeki sıcaklıklarda ise  optik odasının soğutma sistemi olmadığından  ısı kontrolü güçleşecektir. Çözüm  ek  bir  maliyetle  klima  takılarak  çözümlenir.
Profil  ayarı  diye belirtilen mekanizma resimde görüldüğü gibi aslında  giriş slitinin yerinin  değiştirilerek  gelen ışığın grating üzerinde farklı noktalara  düşmesinin  sağlanmasıdır. Fototüplü sistemlerde sartsıntılara  bağlı olarak spektrum dönem dönem kayabilir.  Grating çok az da olsa dönebilir. Özellikle bu tür cihazlar taşınmaya ve yerinden oynatmaya karşı çok duyarlıdır. Profil ayarı yani  giriş slitinin yerinin değiştirilmesi eğer tüm spektrum aynı doğrultu ve oranda kaymışsa  işe yarar. Bazen profil  değerleri düşük dalga boylarından (fosfor, kükürt) yüksek dalga boylarına (molibden,mangan,tungsten ) doğru yükselir. Bu durumda grating dispersiyon  bozulmuş  olduğundan  profil ayarlanamaz.
CCD  SİSTEMLERDE  PROFİL AYARI :
Profil  ayarlama probleminin nedeninin  değişen  ortam  şartlarından  dolayı  spektrumun  kayması olduğunu, fototüplü  sistemlerde yeni duruma göre sensör yerleri sabit  olduğundan  ancak  giriş slitinin yeri ile oynayarak  kısmen düzeltilebildiğini   belirtmiştik. CCD sistemlerinde ise sensör yerleri  değiştirilebilir. Çünkü  sensörler tüm  spektrum bölgesini kapsamaktadır. Aşağıda bir pik numunesinin FOUNDRY  MASTER'da karbonun bulunduğu  191.0 nm ile 194.0 nm arasındaki  spektrumu gösterilmiştir. 
Birinci yöntem sadece re-kalibrasyon  anında elementlerin tepe noktalarının  izlenmesi ve kayma miktarlarının  offset tablosuna kaydedilerek  okumaların  yeni kaymaya göre yapılmasıdır. Bunun  dezavantajı ise ortamdaki değişimlerden  dolayı sık sık re-kalibrasyon gerektirmesidir. Ayrıca  birbirine çok yakın kanalların tepe noktalarının iyi izlenememesidir. İkinci yöntem  ise  analize başlamadan  önce  örnek bir referans numune  (genellikle saf demir % 99.9) spark yapılarak  CCD kaymalarının tesbit edilmesidir. Bu cihazlarda genellikle tek bir  CCD çipi olduğundan  spektrumun başındaki ve sonundaki birer demir kanalı kontrol edilerek  kayma saptanır.  Bu yöntemde  her seferinde analizden önce  veya analizler arasında sürekli özel numune ile kontrol gerektirdiğinden  , bu kontrolü de kullanıcıya bıraktığından  dolayı  pek  pratik görünmemektedir.
VAKUM  CCD SPEKTROMETRE FOUNDRY MASTER'DA  PROFIL KONTROLÜ :
FOUNDRY MASTER'da kullanılan  yöntem  ise  her analiz anında tüm spektrum ve profil kaymasının  kontrolüne dayanır. Bu spektrometrede her birinde en az 2048 piksel  sensör bulunan  en az   14 CCD çipi bulunmaktadır. Her CCD çipinin çalışılan baza göre  en az  1 , bazen 4 farklı  referans  kanalı  bulunur. Analiz  anında  pre-spark süresince bu referans   kanallarının tepe  değerleri  kontrol edilir.
Örnek  olarak  yanda  gösterildiği  gibi 1. CCD  çipinde demir  referans kanalı 2240.  CCD pikseldir. Ancak dış etkilerden  dolayı   spektrumda   5  piksellik  sağa  doğru bir kayma   görülmektedir (sağ taraftaki tepe noktası ). Aynı  CCD çipinde  bulunan  karbon  ise 2789. CCD pikselden okunmaktadır (sol taraftaki tepe noktası ). Bu profil  kayması  2240. pikselde bulunan  demir  kanalının  5 piksellik  kayması  çıkarılarak  2784. CCD den okuma yapılır. Böylece resimde görüldüğü gibi   karbon   doğru  CCD pikselden ,  tam tepe noktasının bulunduğu  CCD den tesbit edilmiş  olur. Bu yöntemle  ± 25 piksellik  kaymalar  kontrol edilmektedir. Böylece klima vs. gibi  özel  laboratuar  koşulları  gerektirmeden kullanıcı  her  ortamda  profille  ilgilenmeksizin  otomatik  olarak  , her analizde  doğru  ve kesin sonuçlar  alabilir.